顯示驅動芯片晶圓探測自動測試設備是一款集成了高性能獨立測試通道的CP測試機，用于對Driver IC的電性能測試，包括DC參數(shù)測試、AC參數(shù)測試以及Function測試。設備測試效率高，具備并行測試能力，可同時對多個DUT并行測試，且每個測試通道可獨立處理測試需求；適用芯片范圍廣，具有可擴展的平臺架構，通過靈活配置可實現(xiàn)一機多用，滿足多種不同類型芯片的測試需求。測試準確率高，配置有PPMU、時序校準、DC測量校準等功能模塊，可實現(xiàn)精準pattern和高精度參數(shù)測量。配置DFT向量測試功能，能滿足DFT測試需求。上述功能特點，使其具備更廣的測試覆蓋率、更高效的測試效率和更精準的測試結果，可幫助用戶提升芯片良率，降低綜合測試成本。